Система динамических испытаний на старение интегральных схем специально разработана для оценки надежности микросхем в условиях, приближенных к реальной эксплуатации. Она воссоздает комбинированные стресс-факторы, такие как колебания температуры, изменения напряжения и вариации частот, чтобы имитировать реальные сценарии использования. В ходе продолжительных испытательных циклов камера фиксирует тенденции изменения производительности и выявляет потенциальные точки отказа, которые могут возникнуть со временем.

Такой подход к тестированию стал необходимым, поскольку интегральные схемы в настоящее время являются важнейшими компонентами в различных областях, от бытовой и автомобильной электроники до систем телекоммуникации, промышленной автоматизации и аэрокосмической промышленности. Поскольку требования к производительности и сроку службы продолжают расти, тщательная оценка надежности в испытательных камерах ускоренного старения становится все более ключевым элементом гарантии стабильного качества и безопасности продукции.